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XRD

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X선 회절분석법
(XRD : X-ray Diffractometry)

XRD ( X'Pert MPD, PHILIPS)
XRD(X'Pert MPD, PHILIPS)

원리

  • 분석하려는 시료의 표면에 특성 X-Ray을 입사 시키면 시료 결정면의 회절현상에 의해 특성 X-Ray빔이 회절되어 나온다.
  • 회절된 특성 X-Ray 빔의 각도 및 크기를 이용하여 시료의 결정구조에 연구한다.

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