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X-선 형광분석(XRF)

원리

  • X-선 형광분석기 (X-Ray Fluorescence Spectrometer)는 시료에 X-선을 주사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X-선을 이용하여 분석하는 장비이다.
  • X-ray tube에 고전압-전류가 흐르게 되면 X-선이 방출된다.
  • 방출된 X-선이 시료에 조사되면 시료 내에 존재하는 원소의 궤도 내 전자를 여기시킨다. 여기상태의 전자가 기저상태로 돌아가면서 각 원소에 따라 특성 형광 X-선이 방출된다.
  • 방출된 형광 X-선이 분광결정에 의해 회절이 된 후 검출기를 거치면 분석 결과를 얻을 수 있다.

설명

  • XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 화학적 변화 없이 분석이 가능하며, 다양한 형태의 시료 분석이 가능하다.
  • 또한, Be부터 U까지 전원소를 넓은 농도 범위에서 신속하게 분석할 수 있다.
  • 지질, 화학 시료에서부터 제강, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석이 가능하다.
  • 일정한 작동 조건에서 얻어지는 형광 X-선은 재현성이 좋고, 분석하고자하는 시료와 유사한 matrix를 가진 표준물질이 있으면 정확한 정량 및 정성 분석이 가능하다.

장비소개

  • 파장분산형 X-선 형광 분석기(Shimadzu, Japan)
  • 다중채널 X-선 형광 분석기(Shimadzu, Japan)

분석항목

  • 정성분석 : 시료에 함유되어있는 원소의 종류와 그 원소의 S/N비 (S/N= Signal to Noise)
  • 정량분석 : SiO2, Al2O3, Fe2O3, CaO, MgO, K2O, Na2O, TiO2, MnO, P2O5 및 Ignition loss의 wt.% 값
  • 암석 및 토양광물
    (200 mesh 이상은 파쇄필요)
  • 암석

담당자

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